【原】67GHz 雙同軸裸線的高頻性能測(cè)試的挑戰(zhàn)及應(yīng)對(duì)方法

關(guān)鍵字： 67GHZ， 雙同軸裸線， 高頻測(cè)試，治具

搞要： 本文簡(jiǎn)要分析了67GHz 雙同軸裸線的高頻性能測(cè)試的挑戰(zhàn)及應(yīng)對(duì)方法，介紹測(cè)試樣品準(zhǔn)備的要點(diǎn)、測(cè)試治具的選擇、如何優(yōu)異地完成頻率高達(dá)67GHz的性能測(cè)試。

正文

因應(yīng)AI及高數(shù)據(jù)帶寬要求，雙同軸線材的應(yīng)用頻率越來(lái)越高，測(cè)試頻寬要求達(dá)到了驚人的67GHz，線材生產(chǎn)廠家的工藝管控精度更是以微米計(jì)算，普通的PCB測(cè)試方案盡管完善到極致其測(cè)試上限只能達(dá)到50GHz，超過(guò)50GHz 時(shí)由于高頻信號(hào)的反射加劇導(dǎo)致SDD21曲線抖動(dòng)明顯加大，測(cè)量值將嚴(yán)重偏離產(chǎn)品的實(shí)際性能表現(xiàn)。

為了得到優(yōu)異的高頻性能，須注意特性阻抗的連續(xù)性，端接位置的特性阻抗保持在100歐姆，使用10ps的上升時(shí)間進(jìn)行端接位置的特性阻抗的分析其波動(dòng)不要超過(guò)10歐姆。對(duì)雙同軸裸線的處理根據(jù)經(jīng)驗(yàn)鋁箔去除長(zhǎng)度不可超過(guò)0.5mm為佳，如圖2所示

圖2：雙同軸裸線的鋁箔去除長(zhǎng)度不可超過(guò)0.5mm

測(cè)試治具在高頻測(cè)試中的作用至關(guān)重要，高頻測(cè)試治具不但要方便使用者操作、美觀耐用，還需保證優(yōu)異的高頻性能，因此裸線高頻測(cè)試治具的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)需保證阻抗的連續(xù)性，特別是端接位置的處理、屏蔽層的處理至關(guān)重要，裸線推入治具（圖3）與治具內(nèi)導(dǎo)體接觸后，蓋上金屬蓋板壓下膠塊固定線纜與治具（圖4）。使用10ps的上升時(shí)間進(jìn)行端接位置的特性阻抗的分析其波動(dòng)不會(huì)超過(guò)10歐姆（圖5）。測(cè)試結(jié)果顯示SDD21直至67GHz曲線波動(dòng)極小。（圖6）

圖3： 67GHz雙同軸裸線測(cè)試治具

圖4 67GHz雙同軸裸線測(cè)試治具

結(jié)語(yǔ)

通過(guò)對(duì)待測(cè)物鋁箔去除長(zhǎng)度的控制及測(cè)試治具結(jié)構(gòu)的處理保證了端接處特性阻抗的連續(xù)性，從而獲得優(yōu)異的67GHz高頻測(cè)試性能，此方法適用于32AWG-26AWG的雙同軸裸線的高頻性能測(cè)試。